High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography - D. K. Bowen,Brian K. Tanner
-40%
Valoda
angļu valoda
Vāks
Mīkstais vāks
Publicēts
2019-10-10
128,99 €
214,99 €
-40% ar kodu BOOKS
Mīkstais vāks
214,99 €
Cietais vāks
Piegādātāja noliktavā
Piegāde 15-21 darba dienu laikā
30 dienu atgriešanas politika
Jums varētu patikt arī
Vairāk informācijas
| Autors | D. K. Bowen, Brian K. Tanner |
|---|---|
| Izdevējs | Taylor & Francis Ltd (Sales) |
| Izlaides gads | 2019 |
| Vāka tips | Mīkstais vāks |
| EAN | 9780367400637 |
Rakstiet savu atsauksmi
Goodreads atsauksmes
128,99 €
214,99 €