Bezmaksas piegāde pasūtījumiem virs 29€

  • check 10+ miljoni grāmatu
  • check Jaunumi katru dienu
  • check Vairāk nekā 1 miljons klientu mums uzticas
  • check Labas cenas un atlaides
  • check Piegāde visā Eiropā

High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography - D. K. Bowen,Brian K. Tanner

angļu valoda
2019-10-10
128,99 € 214,99 €

-40% ar kodu BOOKS

Piegādātāja noliktavā

Piegāde 15-21 darba dienu laikā

30 dienu atgriešanas politika

Jums varētu patikt arī

Vairāk informācijas

Autors D. K. Bowen, Brian K. Tanner
Izdevējs Taylor & Francis Ltd (Sales)
Izlaides gads 2019
Vāka tips Mīkstais vāks
EAN 9780367400637
Rakstiet savu atsauksmi
Jūs vērtējat: High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Jūsu novērtējums:

Goodreads atsauksmes

128,99 € 214,99 €